專(zhuān)為光電產(chǎn)品開(kāi)發(fā)設計，適用于測試各種光電器件（太陽(yáng)能電池，超大面積電池，CMOS傳感器，CCD）的光譜響應系統方案，具有穩定性高，重復性好，測量精度高的優(yōu)點(diǎn)。整合型一體化設計，減少外部環(huán)境干擾，減小設備的體積，操作方便。

應用涉及方向	測試項目	推薦產(chǎn)品	附件/選件	備注
大面積測試，一級電池片標定	大光斑光譜響應測試	SR-156	溫控平臺， 模擬光源， 電壓偏壓	滿(mǎn)足IEC 60904-8，ASTM E 1021標準
常規量子效率測試	小光點(diǎn)光譜響應測試	QE-R	自動(dòng)樣品臺， CCD相機, 溫控平臺	多結電池測試，適合各種電池，定制系統。
COMS，CCD，光點(diǎn)傳感器測試	超小光斑光譜響應	LBIC-010	自動(dòng)樣品臺，CCD	光斑最小可達10微米

　　太陽(yáng)能電池（光電材料）光譜響應測試，或稱(chēng)量子效率QE（Quantum Efficiency）測試，或光電轉化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 測試等， 為測量入射至太陽(yáng)能板后最終光能轉換為電能的效率，其又可分為內部量子效率 (Internal Quantum Efficiency, IQE) 與外部量子效率 (External Quantum Efficiency, EQE)。通常都是以EQE來(lái)當作IPCE的指標，表示入射光能打到太陽(yáng)能電池最后能在外部提供多少的電能。EQE一般常見(jiàn)的表示法有“光譜響應 (Spectral Response)”，其單位為 A/W (安培/瓦特，入射每瓦特的光能量能產(chǎn)生多少安培的外部電流)?；蛘呤怯冒俜直确杹?lái)表示(%)，代表每入射一個(gè)光子能產(chǎn)生多少能傳遞到外部電路電子的比率。實(shí)際的量測方式，是將能量P(λ)的光打到太陽(yáng)能電池所產(chǎn)生的電流值I(λ)；P代表入射光的能量，單位為瓦特(W)，I為電流，單位為安培(A)，λ為入射光之波長(cháng)；將I(λ)與P(λ)兩者相除，即可得到太陽(yáng)能電池的光譜響應 (Spectral Response, A/W)。若要得到外部量子效益(%)，只要將I(λ)的單位安培(A)換算成電子數，再將P(λ)的單位瓦特(W)換算成光子數，即可得到太陽(yáng)能電池EQE的百分比表示法。 
　　對于光電傳感器，光電探測器（太陽(yáng)電池為一個(gè)特殊應用）等光電轉換器件來(lái)說(shuō)，光譜響應測試是非常重要的，反映了這種器件的光電轉換效率等關(guān)鍵參數。